水下γ能譜儀全稱(chēng)為能量分散譜儀，目前常用的是Si(Li)X射線(xiàn)能譜儀，其關(guān)鍵部件是Si(Li)檢測(cè)器，即鋰漂移硅固態(tài)檢測(cè)器，它實(shí)際上是一個(gè)以L(fǎng)i為施主雜質(zhì)的n-i-p型二極管。

 

　　分析速度快能譜儀可以同時(shí)接受和檢測(cè)所有不同能量的X射線(xiàn)光子信號(hào)，故可在幾分鐘內(nèi)分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測(cè)器可探測(cè)的元素范圍為11Na~92U，20世紀(jì)80年代推向市場(chǎng)的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素，探測(cè)元素的范圍為4Be~92U。

 

　　靈敏度高X射線(xiàn)收集立體角大。由于能譜儀中Si(Li)探頭可以放在離發(fā)射源很近的地方(10㎝左右)，無(wú)需經(jīng)過(guò)晶體衍射，信號(hào)強(qiáng)度幾乎沒(méi)有損失，所以靈敏度高(可達(dá)104cps/nA，入射電子束單位強(qiáng)度所產(chǎn)生的X射線(xiàn)計(jì)數(shù)率)。

 

　　水下γ能譜儀可在低入射電子束流(10-11A)條件下工作，這有利于提高分析的空間分辨率。譜線(xiàn)重復(fù)性好由于能譜儀沒(méi)有運(yùn)動(dòng)部件，穩(wěn)定性好，且沒(méi)有聚焦要求，所以譜線(xiàn)峰值位置的重復(fù)性好且不存在失焦問(wèn)題，適合于比較粗糙表面的分析工作。

 

　　波譜儀全稱(chēng)為波長(zhǎng)分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線(xiàn)是由樣品表面以下m數(shù)量級(jí)的作用體積中激發(fā)出來(lái)的，如果這個(gè)體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發(fā)出各個(gè)相應(yīng)元素的特征X射線(xiàn)。

 

　　被激發(fā)的特征X射線(xiàn)照射到連續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)的分光晶體上實(shí)現(xiàn)分光（色散），即不同波長(zhǎng)的X射線(xiàn)將在各自滿(mǎn)足布拉格方程的2方向上被（與分光晶體以2：1的角速度同步轉(zhuǎn)動(dòng)的）檢測(cè)器接收。波譜儀的特點(diǎn)波譜儀的突出優(yōu)點(diǎn)是波長(zhǎng)分辨率很高。

 

　　但由于結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，譜儀要想有足夠的色散率，聚焦圓的半徑就要足夠大，這時(shí)彎晶離X射線(xiàn)光源的距離就會(huì)變大，它對(duì)X射線(xiàn)光源所張的立體角就會(huì)很小，因此對(duì)X射線(xiàn)光源發(fā)射的X射線(xiàn)光量子的收集率也就會(huì)很低，致使X射線(xiàn)信號(hào)的利用率極低。此外，由于經(jīng)過(guò)晶體衍射后強(qiáng)度損失很大，所以，波譜儀難以在低束流和低激發(fā)強(qiáng)度下使用，這是波譜儀的兩個(gè)缺點(diǎn)。